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半导体快速温变检测设备 是各式各样的产品在设计强度极限下,运用人工模拟环境温度加速技巧 (在上、下限极值温度内进行循环时,产品产生交替膨胀和收缩)改变外在环境应力,使产品中产生热应力和应变,透过加速应力来使潜存于产品的瑕疵浮现[潜在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工艺瑕疵],以避免该产品批量于使用过程中,受到环境应力的考验时而导致失效,造成不必要的重大损失,对于提高产品出货良率与降低返修次数有显着的效果,另外应力筛选本身是一种制程阶段的过程,而不是一种可靠度试验,所以应力筛选是100%对产品进行的程序。
半导体快速温变检测设备 的技术参数:
快速温度试验箱型号 |
LQ-KS-80 |
LQ-KS-150 |
LQ-KS-225 |
LQ-KS-408 |
LQ-KS-800 |
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标称内容积(升) |
80 |
150 |
225 |
408 |
800 |
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性能 |
温度范围 |
-70℃~+150℃ |
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温度波动度 |
1℃ |
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温度偏差 |
±2.0℃ |
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湿度范围 |
20~98%RH |
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湿度偏差 |
±3.0%RH(>75%RH),±5.0%RH(≤75%RH) |
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温度变化速率 |
1/3/5/8/10/15min |
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温度变化速率范围 |
-55℃~+70℃ |
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工作室尺寸( cm)W*D*H |
40*40*50 |
50*50*60 |
75*60*50 |
60*80*85 |
80*10*100 |
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果。
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求。
多种可选功能(测试孔、记录仪、净水系统等)保证了用户多种功能和测试的需要。
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